Tag: cpk
1 pozycji oznaczonych tym tagiem.
- SPC, zdolność procesu, karty kontrolne i plan reakcji
Praktyczny system SPC od rozdzielenia tolerancji, granic kontrolnych i celu procesu przez MSA, racjonalne podgrupy, stratyfikację oraz karty X̄-R, X̄-S, I-MR, p, np, c i u po fazy I/II, reguły sygnałów, CUSUM, EWMA i autokorelację. Szczegółowo wyjaśnia Cp, Cpk, Pp, Ppk, przedziały ufności, procesy nienormalne, charakterystyki geometryczne, produkcję krótkoseryjną i jednostkową, trend zużycia oraz proces regulowany automatycznie. Łączy FAI i wyniki pomiarowe z planem reakcji, ochroną przed regulowaniem szumu, RCA, CAPA, dashboardem i wdrożeniem według aktualnych ISO 7870-2:2023, ISO 7870-4:2021 i ISO 22514-2:2026.